从“全系统视角”
协调
图像检测设备
协调
图像检测设备
从“全系统视角”
协调
图像检测设备
协调
图像检测设备
随着摄影技术和解析技术的发展,图像检测设备的使用范围越来越广。
然而,组成设备的装置和软件也越来越复杂,
同时出现了因过度设计而导致的成本增加以及装置制造商之间的协调不足等需要应对的新问题。
株式会社SIer汇集了图像检测设备所需的技术,以解决此类问题。
通过整合开发和制造,实现客户真正需要的最优图像检测。
株式会社SIer
Topics通知
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2024.12.23
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2024.11.13
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2024.10.10
我司发布了标准印刷电路板检测软件(使用RGB照明和深度学习)。
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2024.09.16
我司发布了半导体基板的标准缺陷检测软件(具有使用深度学习的缺陷分类功能)。
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2024.08.01
深度学习标准软件现在支持COGNEX的EL(边缘学习功能)。